Statistical Regression With Measurement Error

John-W Van Ness

,

Chi-Lung Cheng

Note moyenne 
John-W Van Ness et Chi-Lung Cheng - Statistical Regression With Measurement Error.
66,20 €
Actuellement indisponible

Caractéristiques

  • Date de parution
    01/01/1999
  • Editeur
  • Collection
    kendall's library of statistic
  • ISBN
    0-340-61461-7
  • EAN
    9780340614617
  • Présentation
    Broché
  • Nb. de pages
    262 pages

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