Durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques - Volume 2, Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED - Grand Format

Raphaël Baillot

,

Yannick Deshayes

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Raphaël Baillot et Yannick Deshayes - Durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques - Volume 2, Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED.
Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l'éclairage moderne à LED. Méthodologies d'analyse de la fiabilité... Lire la suite
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Résumé

Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l'éclairage moderne à LED. Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l'état de l'art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l'identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.
L'identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d'analyse efficace de dispositifs d'éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable.

Caractéristiques

  • Date de parution
    01/01/2017
  • Editeur
  • Collection
  • ISBN
    978-1-78405-279-9
  • EAN
    9781784052799
  • Format
    Grand Format
  • Présentation
    Broché
  • Nb. de pages
    240 pages
  • Poids
    0.385 Kg
  • Dimensions
    16,5 cm × 23,5 cm × 1,2 cm

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À propos des auteurs

Raphaël Baillot détient un doctorat en opto-électronique de l'université de Bordeaux. Depuis 2012, il est responsable R&D et fiabilité de l'entreprise Sunna Design. Yannick Deshayes est maître de conférences à l'université de Bordeaux, titulaire d'un doctorat en électronique et d'une habilitation à diriger des recherches. Son domaine de recherche principal est l'évaluation des mécanismes de défaillance utilisant la complémentarité des mesures électriques et optiques ainsi que les simulations par éléments finis.

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